electron emission microscopy
基本解释
- [冶金工程技术]电子发射显微镜检查法
英汉例句
- In this paper principle and application of Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) is described. Some results obtained with home made setup of BEEM are shown.
本文简单介绍了弹道电子发射显微镜（BEEM）的原理和应用，并给出了用自行研制的BEEM设备得到的一些实验结果。 - Two methods used in the microanalysis of semiconductor interfaces, Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM)and Scanning Internal Photoemission Microscopy (SIPM), are described.
介绍了可以在微观级对半导体界面的电学性质进行评价的两种新技术及其应用。 - The structures of the composite films were characterized by field emission scanning electron microscopy (FESEM), Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR) and thermo gravimetric analysis (TGA).
采用场发射扫描电镜（FESEM）、红外光谱（FTIR）、热重分析（TGA）等方法对复合膜结构进行表征。
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双语例句
词组短语
- field electron emission microscopy 场电子发射显微术
- field emission electron microscopy 场发射扫描电子显微镜
- emission Electron Microscopy 光发射电子显微镜检查
- photo -emission electron microscopy 发射电子显微镜;光发射电子显微镜检查;光电发射电子显微镜检查
- Field Emission Scanning Electron Microscopy 场发射扫描电子显微镜;扫描电子显微分析;式电子显微镜;电子显微镜
短语
专业释义
- 电子发射显微镜检查法